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MICROTEST 9333+6420 PCB線圈微短路測(cè)試儀

更新時(shí)間:2020-09-12點(diǎn)擊次數(shù):1347

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MICROTEST 9333+6420 PCB線圈微短路測(cè)試儀

NFC天線或WPC無(wú)線充電線圈板採(cǎi)用軟板材料能夠滿足『智慧手持設(shè)備』或『穿戴式智慧產(chǎn)品』輕巧訴求下,F(xiàn)PC佈線成線圈繞組不論是蝕刻或銀膠印刷會(huì)因製程不良導(dǎo)致線圈與線圈相互接觸產(chǎn)生微短路現(xiàn)象,往往這種品質(zhì)瑕疵漏洞造成下游模組廠功能測(cè)試結(jié)果為NG,後變成客訴的主要因素。

線圈微短路現(xiàn)象嚴(yán)重時(shí)會(huì)導(dǎo)致WPC無(wú)線充電模組無(wú)法進(jìn)行充電功能,或是應(yīng)用在行動(dòng)支付上NFC應(yīng)用卡片感應(yīng)不良,因此PCB線圈微短瑕疵檢測(cè)成為品質(zhì)的重要課題。PCB線圈微短測(cè)試機(jī)9333採(cǎi)用非破壞性的高壓檢測(cè),檢測(cè)方式為加壓線圈的兩端利用瞬間電壓使待測(cè)物線圈電感與測(cè)試機(jī)內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)電容相互諧振出能量從釋放到衰減會(huì)產(chǎn)出一組波形,透過波形比對(duì)出PCB線圈本身絕緣、電感量與並聯(lián)電容量為小的變化,藉此把關(guān)PCB製程對(duì)線圈造成的微短路瑕疵。

  • PCB線圈因製程不良,導(dǎo)致線圈微短現(xiàn)象(圈與圈之間/層與層之間相互接近短路),可能在成品測(cè)試階段出現(xiàn)NG不良的客訴風(fēng)險(xiǎn)
  • 製程分析或是品??毓芷焚|(zhì)的蕞佳
  • 可同時(shí)測(cè)試多組線圈板提升效率
  • 電測(cè)方式非破壞性分析- 瞬間電壓測(cè)試
  • 透過L/C相互放電諧振釋放出波形進(jìn)行比對(duì)
  • 整合LCR 量測(cè)功能,對(duì)線圈板進(jìn)行權(quán)方位品質(zhì)控管(電感量/電感Q值/直流電阻)

 

量測(cè)數(shù)據(jù)

  
電感阻抗特性
直流電阻量測(cè)範(fàn)圍0.1m? ~ 100k?( 四線量測(cè) )
穩(wěn)定精度低阻:0.1m? ~1? ±(0.2% ± 1m?)高阻:1? ~ 100k? ±0.1%
電感量
電感量測(cè)試0.01nH ~ 100kH
線圈微短
量測(cè)電壓 0.2kV ~ 3kV ±2%
量測(cè)項(xiàng)目 波形總面積、波形面積差、波形顫動(dòng)數(shù)、波形比對(duì)、電暈數(shù)
穩(wěn)定精度2%

 

規(guī)格

  
量測(cè)接點(diǎn)17 channels
指示器PASS / FAIL 畫面顯示 / 聲響判斷
測(cè)試治具依測(cè)試需求生產(chǎn)製作
電源需求90 ~ 132Vac or 198 ~ 264Vac (可切換)
介面RS-232
儲(chǔ)存記憶體Flash Memory可重覆儲(chǔ)存 100 組
啟動(dòng)方式手動(dòng)、RS-232
操作環(huán)境溫度:10℃ ~ 40℃,濕度:20 ~ 90%RH
6420+9333 外觀尺寸 (W*H*D) / 重量435x140x520 mm / 15 Kg
9333/6420 液晶螢?zāi)?/td>320*240 解析度圖形液晶顯示

功能項(xiàng)目

  
測(cè)試功能項(xiàng)目量測(cè)範(fàn)圍
線圈微短脈衝電壓 200V ~ 3000V
線圈阻抗電感量測(cè)、品質(zhì)因素、直流電阻

 

MICROTEST 9333+6420 PCB線圈微短路測(cè)試儀