產(chǎn)品中心

Product Center
  • 3160/3160FChroma 3160/3160F 4 site 終端測試分類機(jī)

    Chroma 3160/3160F 4 site 終端測試分類機(jī) 9K pcs 產(chǎn)能 (Model 3160) 彈性的矩陣測試及指紋圖形測試 (3160F) 1~10 Kgf 微型接觸力 (3160F) 1 x 4 DUT架構(gòu) (3160/3160F) 空載盤自動堆迭 (選購) (3160F) 可設(shè)定的待測物間距 可側(cè)邊安裝測試機(jī)

    更新時間:2023-12-26
    產(chǎn)品型號:3160/3160F
    瀏覽量:944
  • 3112致茂Chroma 3112 晶片測試分類機(jī)

    致茂Chroma 3112 晶片測試分類機(jī) 高信賴度之PnP自動化測試分類機(jī) x4 多盤置入自動測試分類 Q方位 (X/Y/Z/θ) 可調(diào)式探針座模組 測式座產(chǎn)品堆迭檢測 x12 輸出分類盤可程式設(shè)定輸出類別 全程即時良率顯示與控制 全程探針接觸狀態(tài)顯示 (選配)

    更新時間:2023-12-26
    產(chǎn)品型號:3112
    瀏覽量:761
  • 3111致茂Chroma 3111 桌上型單站測試分類機(jī)

    致茂Chroma 3111 桌上型單站測試分類機(jī) 600 mm (W) x 565 mm (D) x 800 mm (H) 可放置兩個JEDEC料盤 支援 5x5mm 到 45x45mm 晶片尺寸 可由軟體介面設(shè)定分類數(shù) 測試頭內(nèi)建氣室,可吸收及減緩下壓觸力沖擊 優(yōu)化的 IC 下壓接觸平整度 蕞佳化的 socket 使用壽命 IC 堆迭防護(hù) 連續(xù)性自動重測功能

    更新時間:2023-12-25
    產(chǎn)品型號:3111
    瀏覽量:954
  • 3110-FT致茂Chroma 3110-FT 三溫測試分類機(jī)

    致茂Chroma 3110-FT 三溫測試分類機(jī) 可設(shè)定溫度范圍 -40℃~125℃ 適用于 FT測試 支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到 45x45 mm 控制下壓觸力在1到10 kg (Optional) 具有4個產(chǎn)品分類料盤 支援遠(yuǎn)端控制操作

    更新時間:2023-12-25
    產(chǎn)品型號:3110-FT
    瀏覽量:1442
  • 3110致茂Chroma 3110 雙用單站測試分類機(jī)

    致茂Chroma 3110 雙用單站測試分類機(jī) 雙用單站測試分類機(jī) 適用於終端測試或系統(tǒng)功能測試 自動進(jìn)料出料艙的配置及依測試結(jié)果自動分類的功能 測頭內(nèi)建氣室,可吸收及減緩下壓觸力的衝擊 智能型的載盤IC殘留偵測 可選配的三溫控制系統(tǒng) (Standard: -40℃ ~ 135℃, Option: -55℃ ~ 150℃) 可選配的高功率冷卻系統(tǒng) 理想的產(chǎn)品工程或研發(fā)實(shí)驗(yàn)設(shè)備機(jī)

    更新時間:2023-12-25
    產(chǎn)品型號:3110
    瀏覽量:1012
共 129 條記錄,當(dāng)前 9 / 26 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉(zhuǎn)到第頁