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致茂Chroma 19501-K 局部放電測試儀

產(chǎn)品簡介

致茂Chroma 19501-K 局部放電測試儀
單機(jī)內(nèi)建高電壓耐壓測試與PD偵測功能
可程式交流電壓 0.1kVac ~ 10KVac
高精度及高解析度電流表 0.01uA ~ 300uA
局部放電(PD)偵測范圍 1 pC ~ 2000 pC
高壓接觸檢查功能(HVCC)
符合IEC60747-5-5與IEC 60270-1 法規(guī)測試要求

產(chǎn)品型號:19501-K
更新時(shí)間:2023-12-18
廠商性質(zhì):代理商
訪問量:1368
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品牌Chroma/致茂產(chǎn)地類別國產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域電子

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致茂Chroma 19501-K 局部放電測試儀

主要特色:

  • 單機(jī)內(nèi)建高電壓耐壓測試與PD偵測功能
  • 可程式交流電壓 0.1kVac ~ 10KVac
  • 高精度及高解析度電流表 0.01uA ~ 300uA
  • 局部放電(PD)偵測范圍 1 pC ~ 2000 pC
  • 高壓接觸檢查功能(HVCC)
  • 符合IEC60747-5-5與IEC 60270-1 法規(guī)測試要求
  • 內(nèi)建IEC60747-5-5 測試方法
  • 三段電壓測試功能
  • PD測量結(jié)果數(shù)字化顯示(pC)
  • PD 不良發(fā)生判定次數(shù)設(shè)定 (1~10)
  • 繁中/ 簡中 / 英文操作介面
  • USB畫面擷取功能
  • 圖形化輔助編輯功能
  • 標(biāo)準(zhǔn)LAN, USB, RS232遠(yuǎn)端控制介面

Chroma 19501-K 局部放電測試器結(jié)合高電壓耐壓測試與局部放電(Partial Discharge)偵測功能于一單機(jī),提供交流電壓輸出大10kV,漏電流量測范圍從0.01uA~300uA,局部放電偵測范圍小可偵測1pC放電量,針對高壓半導(dǎo)體元件及高絕緣材料測試應(yīng)用所開發(fā)。產(chǎn)品設(shè)計(jì)符合IEC 60270-1與IEC60747-5-5法規(guī)要求,同時(shí)內(nèi)建IEC 60747-5-5法規(guī)之測試方法在儀器內(nèi)部,滿足光耦合器產(chǎn)品生產(chǎn)測試需求,并提供給使用者一個(gè)便利操作介面.

在生產(chǎn)線上執(zhí)行高壓測試時(shí),如果被測物未能正確及良好連接測試線,將導(dǎo)致測試結(jié)果失敗甚至是漏測的風(fēng)險(xiǎn)。因此,在測試前確保被測物與測試線良好連接是非常重要的。 Chroma *之HVCC高壓接觸檢查功能(High Voltage Contact Check),利用Kelvin測試方法針對高絕緣能力之元件于高壓輸出時(shí)同步進(jìn)行接觸檢查,提升其測試可靠度與效率。

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ModelDescription詢價(jià)
19501-K局部放電測試器

 致茂Chroma 19501-K 局部放電測試儀

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