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致茂Chroma 3240-Q無(wú)線射頻分類機(jī)符合成本效益的RF整合方案客制RF隔離室和整合Tester安裝可調(diào)整測(cè)試間距至120mm具有八個(gè)平行測(cè)試站點(diǎn)支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到45x45 mm精確的定位能力支援JEDEC和EIA料盤(pán)
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產(chǎn)品分類article
相關(guān)文章品牌 | Chroma/致茂 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
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致茂Chroma 3240-Q無(wú)線射頻分類機(jī)
主要特色:
3240-Q是一個(gè)獨(dú)特且創(chuàng)新、整合了射頻和無(wú)線隔離室之自動(dòng)分類機(jī)。此機(jī)臺(tái)配置多達(dá)八個(gè)測(cè)試 站點(diǎn)和獨(dú)立的隔離作平行測(cè)試。 3240-Q具有順暢的自動(dòng)化測(cè)試,、精確的Pick & Place技術(shù)、彈 性的多測(cè)點(diǎn)架構(gòu)、高產(chǎn)能和低Jam Rate等優(yōu)勢(shì),適用于射頻和無(wú)線晶片測(cè)試。
3240-Q也可依據(jù)測(cè)試需求支援各種不同類型封裝的晶片。具有自動(dòng)送料/分料盤(pán)設(shè)計(jì), 3240-Q適 用于JEDEC和EIA料盤(pán)規(guī)范。另有選配的加強(qiáng)溫控的測(cè)試能力, 可提供高達(dá)150℃之高溫測(cè)試環(huán)境。
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Model | Description | 詢價(jià) |
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3240-Q | 無(wú)線射頻分類機(jī) |
致茂Chroma 3240-Q無(wú)線射頻分類機(jī)